58 matches
-
Aspecte ale fabricării dispozitivelor semiconductoare În figura 8.1 se prezintă succint fazele fabricării unui circuit integrat complex, microprocesor, microcontroler sau cip de memorie ([3]Ă. Figura 8.1 Etapele fabricării unui circuit integrat([3]Ă Se pornește de la un monocristal de siliciu pur de formă cilindrică și diametru mare - tehnologiile de vârf actuale utilizează dimensiunea de 12 inch, circa 300 mm. Monocristalul se taie în plachete subțiri care sunt supuse unui proces complex, cu 20 ... 40 de pași în care
CONSTRUCŢIA ŞI TEHNOLOGIA SISTEMELOR EMBEDDED by Andrei DRUMEA () [Corola-publishinghouse/Science/674_a_1090]
-
de memorie ([3]Ă. Figura 8.1 Etapele fabricării unui circuit integrat([3]Ă Se pornește de la un monocristal de siliciu pur de formă cilindrică și diametru mare - tehnologiile de vârf actuale utilizează dimensiunea de 12 inch, circa 300 mm. Monocristalul se taie în plachete subțiri care sunt supuse unui proces complex, cu 20 ... 40 de pași în care, prin măști selective, placheta de siliciu, numită și wafer, este impurificată în mod controlat și se depune pe ea o anumită structură
CONSTRUCŢIA ŞI TEHNOLOGIA SISTEMELOR EMBEDDED by Andrei DRUMEA () [Corola-publishinghouse/Science/674_a_1090]
-
semiconductoare de putere sunt: dioda, tiristorul, triacul, tiristorul cu blocare pe poartă (GTO), tranzistorul bipolar de putere, tranzistorul cu grilă izolată (IGBT), tiristorul controlat MOS (MCT). 3.1.1. Dioda Dioda este formată dintr-o joncțiune pn, realizată într-un monocristal de siliciu sau germaniu, având contacte metalice atașate celor două regiuni, anod (pe zona p), respectiv catod (atașat zonei n), Fig.2.1. În Fig.2.2 este reprezentată caracteristica volt amper statică a unei diode. Aplicând la anod o
COMPATIBILITATE ELECTROMAGNETICĂ SURSE DE PERTURBAŢII ELECTROMAGNETICE by Adrian BARABOI, Maricel ADAM, Sorin POPA, Cătălin PANCU () [Corola-publishinghouse/Science/733_a_1332]
-
Aspecte ale fabricării dispozitivelor semiconductoare În figura 8.1 se prezintă succint fazele fabricării unui circuit integrat complex, microprocesor, microcontroler sau cip de memorie ([3]Ă. Figura 8.1 Etapele fabricării unui circuit integrat([3]Ă Se pornește de la un monocristal de siliciu pur de formă cilindrică și diametru mare - tehnologiile de vârf actuale utilizează dimensiunea de 12 inch, circa 300 mm. Monocristalul se taie în plachete subțiri care sunt supuse unui proces complex, cu 20 ... 40 de pași în care
CONSTRUCŢIA ŞI TEHNOLOGIA SISTEMELOR EMBEDDED by Andrei DRUMEA () [Corola-publishinghouse/Science/674_a_1069]
-
de memorie ([3]Ă. Figura 8.1 Etapele fabricării unui circuit integrat([3]Ă Se pornește de la un monocristal de siliciu pur de formă cilindrică și diametru mare - tehnologiile de vârf actuale utilizează dimensiunea de 12 inch, circa 300 mm. Monocristalul se taie în plachete subțiri care sunt supuse unui proces complex, cu 20 ... 40 de pași în care, prin măști selective, placheta de siliciu, numită și wafer, este impurificată în mod controlat și se depune pe ea o anumită structură
CONSTRUCŢIA ŞI TEHNOLOGIA SISTEMELOR EMBEDDED by Andrei DRUMEA () [Corola-publishinghouse/Science/674_a_1069]
-
excitați vor deveni în număr mult mai mare decât ?1 de pe nivelul energetic inferior și la tranzițiile spontane se va produce o radiație electromagnetică amplificată folosită în efectul L.A.S.E.R. - laserul cu cristal de rubin: schema laserului: Substanța activă: monocristal de rubin, impurificat cu ioni trivalenți de crom în proporție de 0,05%. Monocristalul are formă cilindrică de lungime circa 5 cm și de diametru 1 cm, fixat pe axul unei camere cilindrice ce are peretele interior reflectar. Fețele laterale
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
și la tranzițiile spontane se va produce o radiație electromagnetică amplificată folosită în efectul L.A.S.E.R. - laserul cu cristal de rubin: schema laserului: Substanța activă: monocristal de rubin, impurificat cu ioni trivalenți de crom în proporție de 0,05%. Monocristalul are formă cilindrică de lungime circa 5 cm și de diametru 1 cm, fixat pe axul unei camere cilindrice ce are peretele interior reflectar. Fețele laterale S1 și S2 ale barei bine șlefuite și absolut paralele. Ambele fețe S1 și
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
turbine cu gaz, ștergătoare de parbriz neelectrice, regulatoare de elice neelectrice(1) - ex --- Altele: 8479.89.30 ---- Susținător mobil hidraulic pentru mine - 10 8479.89.60 ---- Aparate numite de "gresare centralizată" - 10 8479.89.65 ---- Aparate destinate creșterii sau extragerii monocristalelor semiconductoare - ex 8479.89.70 ---- Aparate de depunere epitaxială pe discurile (wafers) semiconductoare - ex 8479.89.73 ---- Aparate pentru gravarea, delimitarea, degroșarea sau curățarea umedă a discurilor (wafers) semiconductoare, inclusiv a substratelor de afișare a cristalelor lichide - ex 8479.89
TARIFUL VAMAL din 18 decembrie 2002 pentru modificarea denumirii şi clasificarii mărfurilor din Tariful vamal de import al României şi a taxelor vamale aferente acestora*). In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/149751_a_151080]
-
grosimii materialului, numeric, pe ecranul unui defectoscop ultrasonic, în "prezentare A"; ... c) pe ecranul unui defectoscop ultrasonic, în "prezentare A", utilizând ecouri de fund multiple. ... 4.3. Măsurarea grosimii se efectuează astfel: a) pe suprafețe plane, cu traductoare de unde longitudinale monocristal sau dublu cristal (emisie-recepție) cu talpă plana și numai în cazul în care suprafață opusă nu face un unghi mai mare de 10° cu suprafața pe care se aplică traductorul; ... b) pe suprafețe curbe (de exemplu: țevi), cu traductoare de unde
ORDIN nr. 379 din 19 decembrie 2003 pentru aprobarea Prescripţiei tehnice PT CR 12-2003, editia 1, "Măsurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat". In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/155643_a_156972]
-
dublu cristal (emisie-recepție) cu talpă plana și numai în cazul în care suprafață opusă nu face un unghi mai mare de 10° cu suprafața pe care se aplică traductorul; ... b) pe suprafețe curbe (de exemplu: țevi), cu traductoare de unde longitudinale monocristal cu talpă concava (curbura tălpii traductorului trebuie să fie mai mare sau egală cu cea a suprafeței de palpare) sau cu traductoare de unde longitudinale dublu cristal (emisie-recepție). ... NOTĂ: În cazul în care suprafață elementului examinat nu permite o cuplare corectă
ORDIN nr. 379 din 19 decembrie 2003 pentru aprobarea Prescripţiei tehnice PT CR 12-2003, editia 1, "Măsurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat". In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/155643_a_156972]
-
etalonarea inițială, măsurările efectuate între două etalonări succesive se vor repeta. 5.10. În timpul măsurării grosimilor se vor avea în vedere următoarele aspecte: a) se vor efectua două măsurări în același punct, înregistrându-se valoarea cea mai mică pentru traductoarele monocristal; pentru traductoarele dublu cristal se va proceda conform celor menționate la pct. 4.3; ... b) măsurarea se va efectua în puncte distincte sau în punctele de intersecție ale unui caroiaj, în funcție de cerințele proiectantului, ale organului de supraveghere tehnică abilitat sau
ORDIN nr. 379 din 19 decembrie 2003 pentru aprobarea Prescripţiei tehnice PT CR 12-2003, editia 1, "Măsurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat". In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/155643_a_156972]
-
proprietăți controlate - Pulberi și metalurgia pulberilor - Oteluri și superaliaje speciale - Materiale și sisteme magnetice cu proprietăți controlate - Sinteză și modificarea polimerilor - Sinteze și noi materiale chimice organice și anorganice - Materiale carbonice avansate - Biomateriale noi cu aplicații dirijate - Obținerea și caracterizarea monocristalelor și a materialelor ordonate - Lianți și sisteme performanțe - Materiale compozite lemnoase B.3.2.2. Micro- si nanotehnologii - Circuite electronice specializate, integrate în tehnologia microelectronica - Subsisteme integrate microelectronice, microfotonice și de microunde - Microsisteme multifuncționale (electrooptomecanice) - Microtraductoare (senzori și elemente de
PLAN NAŢIONAL din 7 iunie 2001 pentru cercetare-dezvoltare şi inovare pe perioada 1999-2005, reactualizat. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/158742_a_160071]
-
grosimii materialului, numeric, pe ecranul unui defectoscop ultrasonic, în "prezentare A"; ... c) pe ecranul unui defectoscop ultrasonic, în "prezentare A", utilizând ecouri de fund multiple. ... 4.3. Măsurarea grosimii se efectuează astfel: a) pe suprafețe plane, cu traductoare de unde longitudinale monocristal sau dublu cristal (emisie-receptie) cu talpă plana și numai în cazul în care suprafață opusă nu face un unghi mai mare de 10° cu suprafața pe care se aplică traductorul; ... b) pe suprafețe curbe (de exemplu: țevi), cu traductoare de unde
PRESCRIPTII TEHNICE PT CR 12-2003 din 19 decembrie 2003 "Masurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat" *). In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/175345_a_176674]
-
dublu cristal (emisie-receptie) cu talpă plana și numai în cazul în care suprafață opusă nu face un unghi mai mare de 10° cu suprafața pe care se aplică traductorul; ... b) pe suprafețe curbe (de exemplu: țevi), cu traductoare de unde longitudinale monocristal cu talpă concava (curbura tălpii traductorului trebuie să fie mai mare sau egală cu cea a suprafeței de palpare) sau cu traductoare de unde longitudinale dublu cristal (emisie-receptie). ... NOTĂ: În cazul în care suprafață elementului examinat nu permite o cuplare corectă
PRESCRIPTII TEHNICE PT CR 12-2003 din 19 decembrie 2003 "Masurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat" *). In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/175345_a_176674]
-
etalonarea inițială, măsurările efectuate între două etalonări succesive se vor repeta. 5.10. În timpul măsurării grosimilor se vor avea în vedere următoarele aspecte: a) se vor efectua două măsurări în același punct, înregistrându-se valoarea cea mai mică pentru traductoarele monocristal; pentru traductoarele dublu cristal se va proceda conform celor menționate la pct. 4.3; ... b) măsurarea se va efectua în puncte distincte sau în punctele de intersecție ale unui caroiaj, în funcție de cerințele proiectantului, ale organului de supraveghere tehnică abilitat sau
PRESCRIPTII TEHNICE PT CR 12-2003 din 19 decembrie 2003 "Masurarea cu ultrasunete a grosimii elementelor instalaţiilor mecanice sub presiune şi ale instalaţiilor de ridicat" *). In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/175345_a_176674]
-
pentru măsurarea secțiunii transversale echivalente radarelor folosite pentru "rachete" dirijate și subsistemele lor. 6C MATERIALE 6C002 Materiale pentru senzori optici, după cum urmează: a. Telur (Te) ca element, cu un nivel de puritate egal sau mai mare de 99,9995%; b. Monocristale (incluzând plachetele epitaxiale) de la oricare din următoarele: 1. Telurura de cadmiu-zinc (CdZnTe) cu un conținut de zinc mai mic de 6% din 'fracția molara'; 2. Telurura de cadmiu (CdTe) de orice nivel de puritate; sau 3. Telurura de mercur-cadmiu (HgCdTe
LISTA din 25 august 2005 produselor şi tehnologiilor cu dubla utilizare supuse regimului de control la export*). In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/171459_a_172788]
-
pentru măsurarea secțiunii transversale echivalente radarelor folosite pentru "rachete" dirijate și subsistemele lor. 6C MATERIALE 6C002 Materiale pentru senzori optici, după cum urmează: a. Telur (Te) ca element, cu un nivel de puritate egal sau mai mare de 99,9995%; b. Monocristale (incluzând plachetele epitaxiale) de la oricare din următoarele: 1. Telurura de cadmiu-zinc (CdZnTe) cu un conținut de zinc mai mic de 6% din 'fracția molara'; 2. Telurura de cadmiu (CdTe) de orice nivel de puritate; sau 3. Telurura de mercur-cadmiu (HgCdTe
HOTĂRÂRE nr. 983 din 25 august 2005 pentru aprobarea listelor produselor şi tehnologiilor cu dubla utilizare supuse regimului de control la export şi la import. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/170739_a_172068]
-
proprietăți controlate; - pulberi și metalurgia pulberilor; - oteluri și superaliaje speciale; - materiale și sisteme magnetice cu proprietăți controlate; - sinteză și modificarea polimerilor; - sinteze și noi materiale chimice organice și anorganice; - materiale carbonice avansate; - biomateriale noi cu aplicații dirijate; - obținerea și caracterizarea monocristalelor și a materialelor ordonate; - lianți și sisteme performanțe; - materiale compozite lemnoase. B.10.3. Rezultate estimate: - tehnologii și generații noi de aliaje neferoase și compozite cu matrice metalică neferoasa; - tehnologii și tipuri noi de materiale ceramice performanțe cu aplicații industriale
PLANUL NAŢIONAL din 26 octombrie 2000 pentru cercetare-dezvoltare şi inovare pentru perioada 1999-2003. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/198467_a_199796]
-
lipiturile metalice cu ajutorul cărora se creează circuitele magnetice supraconductoare din detectorii IRM, SQUID, RMN (rezonanță magnetică nucleară) sau FTMS (spectrometru de masă cu transformată Fourier). Expiră la 30 iunie 2021. 13. Plumb în contragreutăți 14. Plumb în materiale piezoelectrice cu monocristale pentru transductorii ultrasonici 15. Plumb în aliajele pentru lipirea transductorilor ultrasonici 16. Mercur în punți de foarte înaltă precizie pentru măsurarea capacitanței și a pierderilor, în comutatoare RF de înaltă frecvență și în relee utilizate în instrumente de monitorizare și
ORDIN nr. 1.601 din 27 iunie 2013(*actualizat*) pentru aprobarea listei cu aplicaţii care beneficiază de derogare de la restricţia prevăzută la art. 4 alin. (1) din Hotărârea Guvernului nr. 322/2013 privind restricţiile de utilizare a anumitor substanţe periculoase în echipamentele electrice şi electronice. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/253645_a_254974]
-
spargere, măcinare, cernere, omogenizare, emulsionare sau agitare .............................................................. 1,7 - 8479 89 - - altele: 8479 89 30 - - - - Susținător mobil hidraulic pentru mine ...................... 1,7 - 8479 89 60 - - - - Aparate numite de "gresare centralizată" ................. 1,7 - 8479 89 65 - - - - Aparate destinate creșterii sau extragerii monocristalelor semiconductoare ............................... scutire - 8479 89 70 - - - - Aparate de depunere epitaxială pe discurile (wafers) semiconductoare ................................................................ scutire - 8479 89 73 - - - - Aparate pentru gravarea, delimitarea, degroșarea sau curățarea umedă a discurilor (wafers) semiconductoare sau a substratelor de afișare a cristalelor lichide ....................... scutire - 8479 89
32005R1719-ro () [Corola-website/Law/294373_a_295702]
-
lipiturile metalice cu ajutorul cărora se creează circuitele magnetice supraconductoare din detectorii IRM, SQUID, RMN (rezonanță magnetică nucleară) sau FTMS (spectrometru de masă cu transformată Fourier). Expiră la 30 iunie 2021. 13. Plumb în contragreutăți 14. Plumb în materiale piezoelectrice cu monocristale pentru transductorii ultrasonici 15. Plumb în aliajele pentru lipirea transductorilor ultrasonici 16. Mercur în punți de foarte înaltă precizie pentru măsurarea capacitanței și a pierderilor, în comutatoare RF de înaltă frecvență și în relee utilizate în instrumente de monitorizare și
ORDIN nr. 1.601 din 27 iunie 2013(*actualizat*) pentru aprobarea listei cu aplicaţii care beneficiază de derogare de la restricţia prevăzută la art. 4 alin. (1) din Hotărârea Guvernului nr. 322/2013 privind restricţiile de utilizare a anumitor substanţe periculoase în echipamentele electrice şi electronice. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/270894_a_272223]
-
lipiturile metalice cu ajutorul cărora se creează circuitele magnetice supraconductoare din detectorii IRM, SQUID, RMN (rezonanță magnetică nucleară) sau FTMS (spectrometru de masă cu transformată Fourier). Expiră la 30 iunie 2021. 13. Plumb în contragreutăți 14. Plumb în materiale piezoelectrice cu monocristale pentru transductorii ultrasonici 15. Plumb în aliajele pentru lipirea transductorilor ultrasonici 16. Mercur în punți de foarte înaltă precizie pentru măsurarea capacitanței și a pierderilor, în comutatoare RF de înaltă frecvență și în relee utilizate în instrumente de monitorizare și
ORDIN nr. 1.601 din 27 iunie 2013 (*actualizat*) pentru aprobarea listei cu aplicaţii care beneficiază de derogare de la restricţia prevăzută la art. 4 alin. (1) din Hotărârea Guvernului nr. 322/2013 privind restricţiile de utilizare a anumitor substanţe periculoase în echipamentele electrice şi electronice. In: EUR-Lex () [Corola-website/Law/270893_a_272222]
-
0 ex 7019 90 10 11 Fibre de sticlă netextile în care predomina fibrele cu un diametru mai mic de 3,5 microni 0 ex 7104 10 00 10 Cuarț piezoelectric, nemontat sau montat, sub formă de felii nedopate din monocristal sintetic de -cuarț 0 7106 10 00 10 Argint, sub formă de pulbere 0 ex 7116 20 90 10 Disc din siliciu pe safir 0 7202 50 00 Fero-silico-crom 0 7202 93 00 Feroniobiu 0 ex 7202 99 19 20
jrc3122as1996 by Guvernul României () [Corola-website/Law/88278_a_89065]
-
9A109. 9B Verificarea, inspectarea și echipamentul de protectie. 9B001 Echipamente special proiectate, scule și armături după cum urmează, pentru confecționarea sau măsurarea paletelor de la turbinele cu gaz, stabilizatoare sau de turnare a invelisului de protecție al vârfului. a Echipament de turnare monocristal sau cu solidificare direcționată; b. Cochilii sau miezuri ceramice; 9B002 Sisteme de control on-line (în timp real), instrumente (inclusiv senzori) și achiziționarea de echipamente de procesare automată a datelor, special proiectate pentru "dezvoltarea" motoarelor turbine, ansamble sau componente incorporând "tehnologii
jrc4712as2000 by Guvernul României () [Corola-website/Law/89878_a_90665]
-
colecteze, reducă și să analizeze datele în timp real și capabile de un control feedback inclusiv ajustarea dinamică a articolelor sau condițiilor de verificat pe masură ce se derulează testul. c. "Soft" special proiectat să controleze procedeul de turnare în monocristal sau solidificarea direcționată; d. "Soft" ca și "cod sursă", "cod obiect" sau cod de mașină cerut pentru "utilizarea" sistemelor de compensare activă pentru comanda de ajustare a vârfului paletei rotorului. Nota: 9D004. d nu controlează "soft-ul" implicat în echipamentul
jrc4712as2000 by Guvernul României () [Corola-website/Law/89878_a_90665]