14,286 matches
-
fapt generează mărirea lățimii maximelor de difracție la creșterea lui sin θ. Lățirea maximelor de difracție este determinată și de dimensiunile cristalitelor, dar în acest caz este independentă de sin θ. În cazul în care ambii factori contribuie la lățirea picului, aportul fiecărui factor poate fi determinat în mod separat printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu (111) și (222)) [146-149]. Mai mult, forma picului de difracție poate oferi informații despre alte tipuri de
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
este determinată și de dimensiunile cristalitelor, dar în acest caz este independentă de sin θ. În cazul în care ambii factori contribuie la lățirea picului, aportul fiecărui factor poate fi determinat în mod separat printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu (111) și (222)) [146-149]. Mai mult, forma picului de difracție poate oferi informații despre alte tipuri de imperfecțiuni (de exemplu, prezența, gradul de extindere și tipul defectelor de împachetare) [146, 148]. În cazul
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
În cazul în care ambii factori contribuie la lățirea picului, aportul fiecărui factor poate fi determinat în mod separat printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu (111) și (222)) [146-149]. Mai mult, forma picului de difracție poate oferi informații despre alte tipuri de imperfecțiuni (de exemplu, prezența, gradul de extindere și tipul defectelor de împachetare) [146, 148]. În cazul în care nu există deformații neomogene, atunci dimensiunea cristalitului L se determină cu ajutorul formulei Scherrer
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
două procedee laser experimentate, respectiv: marcaj de inscripționare prin utilizare de nanolaser și marcaj de inscripționare prin utilizare de femtolaser. Datele rezultate sunt prezentate comparativ prin imaginile prezentate în figurile următoare. Se poate observa o foarte ușoară mărire a lățimii picurilor de difracție pentru zona inscripționată, fără a fi înregistrate noi picuri de difracție sau deplasări ale celor inițial înregistrate pe eșantionul fără marcaj. Prin urmare, se poate spune că natura fazelor rămâne aceeași și nu apar modificări structurale ca urmare
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
nanolaser și marcaj de inscripționare prin utilizare de femtolaser. Datele rezultate sunt prezentate comparativ prin imaginile prezentate în figurile următoare. Se poate observa o foarte ușoară mărire a lățimii picurilor de difracție pentru zona inscripționată, fără a fi înregistrate noi picuri de difracție sau deplasări ale celor inițial înregistrate pe eșantionul fără marcaj. Prin urmare, se poate spune că natura fazelor rămâne aceeași și nu apar modificări structurale ca urmare a existenței unor tensiuni interne decelabile aflate în intervalul de difracție
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
spune că natura fazelor rămâne aceeași și nu apar modificări structurale ca urmare a existenței unor tensiuni interne decelabile aflate în intervalul de difracție dintre 35 θ și 85 θ. Fig. 6.7. Graficul de difracție cu reprezentarea tridimensională a picurilor de difracție de raze X pentru θ în domeniul 0-90 grade: 1 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba neinscripționată; 2 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu o singură trecere a fasciculului
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
existenței unor tensiuni interne decelabile aflate în intervalul de difracție dintre 35 θ și 85 θ. Fig. 6.7. Graficul de difracție cu reprezentarea tridimensională a picurilor de difracție de raze X pentru θ în domeniul 0-90 grade: 1 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba neinscripționată; 2 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu o singură trecere a fasciculului laser; 3 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
35 θ și 85 θ. Fig. 6.7. Graficul de difracție cu reprezentarea tridimensională a picurilor de difracție de raze X pentru θ în domeniul 0-90 grade: 1 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba neinscripționată; 2 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu o singură trecere a fasciculului laser; 3 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu două treceri suprapuse ale fasciculului laser Pozițiile maximelor de difracție și
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
raze X pentru θ în domeniul 0-90 grade: 1 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba neinscripționată; 2 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu o singură trecere a fasciculului laser; 3 trasarea picurilor de difracție de raze X pentru proba inscripționată nanolaser cu două treceri suprapuse ale fasciculului laser Pozițiile maximelor de difracție și prin urmare a spațiilor interatomice pot fi precis măsurate prin metoda de difracție de raze X. Metoda este una
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
difracție odată cu creșterea valorii pentru sin θ. Lățirea maximelor de difracție este determinată și de dimensiunile cristalitelor, însă în această situație va fi independentă de valoarea sin θ. În cazul în care ambii factori ar contribui la o lățire a picului, atunci aportul fiecărui factor poate fi determinat în mod separat doar printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu, pe direcțiile (111) și direcțiile (222)). După cum se observă din Fig. 6.8, nu se
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
în această situație va fi independentă de valoarea sin θ. În cazul în care ambii factori ar contribui la o lățire a picului, atunci aportul fiecărui factor poate fi determinat în mod separat doar printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu, pe direcțiile (111) și direcțiile (222)). După cum se observă din Fig. 6.8, nu se evidențiază nicio creștere a lățimii picurilor de difracție și nicio deplasare a valorilor de maxim pentru valori relative
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
fi determinat în mod separat doar printr-o analiză atentă a formei picului pentru câteva ordine de difracție (de exemplu, pe direcțiile (111) și direcțiile (222)). După cum se observă din Fig. 6.8, nu se evidențiază nicio creștere a lățimii picurilor de difracție și nicio deplasare a valorilor de maxim pentru valori relative ale intensității de raze X; prin urmare, nu s-a putut evidenția existența unor tensiuni interne, ca rezultat al realizării de inscripționări laser la suprafața probelor. 1 2
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
183 Fig. 6.8. Valorile înregistrate pentru maximele de difracție din intervalul aflat în domeniul 35 45 Modificarea domeniului de testare și înregistrarea unor valori diferite ale intensității de radiații X, în scopul de a evidenția eventuala existență unor noi picuri pe materialul expus pentru unghiuri θ diferite (50-80 θ), nu a arătat o comportare diferită a materialului din titan inscripționat, comparativ cu proba din titan ce nu a fost inscripționată. Prin urmare, nu s-a putut înregistra nici o modificare de
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
50 85 Lungimea de undă aferentă modulării intensității de unde înregistrate se află în concordanță cu compoziția chimică (bazată pe lungimea de undă modulară), iar deformația medie înregistrată pe eșantion se determină din pozițiile maximelor de difracție. Identificarea cu exactitate a picurilor înregistrate pe graficele de difracție de raze X se face pe baza datelor aflate în memoria de lucru a calculatorului, care preia valori din bazele de date internaționale și ASTM-uri. Pentru situația identificării compușilor sau fazelor, precum și pentru măsurătorile
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
O caracterizare completă și o înțelegere a fenomenelor de apariție a tensiunilor interne din eșantioanele studiate necesită cunoașterea precisă a rugozității, a compoziției interfețelor, dar și poziția planelor atomice. Acest fapt este laborios și implică analize atente ale configurației maximelor picurilor de difracție și un set complet de intensități integrate. Fig. 6.11. Prezentarea datelor și resurselor bibliografice pe baza cărora s-a făcut identificarea automată în urma efectuării difracției de raze X (element, celulă, structură și referințe primare) Fig. 6.10
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
în urma efectuării difracției de raze X (element, celulă, structură și referințe primare) Fig. 6.10. Identificarea caracteristicilor cristalografice ale probei analizate: sistem cristalografic, tip de celulă, grup, volumul celulei 185 Fig. 6.12. Identificarea automată a compușilor pe baza valorii picurilor și a unghiurilor de difracție Se observă că nu apar diferențe pentru valorile de maxime ale picurilor pentru același interval al unghiurilor de difracție în geometria Bragg Brentano (θ între 30-900 pentru Kα Cu). Fig. 6.13. Identificarea automată a
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
cristalografice ale probei analizate: sistem cristalografic, tip de celulă, grup, volumul celulei 185 Fig. 6.12. Identificarea automată a compușilor pe baza valorii picurilor și a unghiurilor de difracție Se observă că nu apar diferențe pentru valorile de maxime ale picurilor pentru același interval al unghiurilor de difracție în geometria Bragg Brentano (θ între 30-900 pentru Kα Cu). Fig. 6.13. Identificarea automată a picurilor și valorile unghiurilor de difracție în cazul probei din aliaj de Ti în geometria Bragg-Brentano (θ
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
și a unghiurilor de difracție Se observă că nu apar diferențe pentru valorile de maxime ale picurilor pentru același interval al unghiurilor de difracție în geometria Bragg Brentano (θ între 30-900 pentru Kα Cu). Fig. 6.13. Identificarea automată a picurilor și valorile unghiurilor de difracție în cazul probei din aliaj de Ti în geometria Bragg-Brentano (θ între 30-900 pentru Kα Cu ) pentru cazurile: 1 eșantion nemarcat cu laserul; 2eșantion marcat cu nanolaserul cu o singură trecere a fasciculului laser; 3eșantion
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
între 30-900 pentru Kα Cu ) pentru cazurile: 1 eșantion nemarcat cu laserul; 2eșantion marcat cu nanolaserul cu o singură trecere a fasciculului laser; 3eșantion marcat cu nanolaserul cu două treceri suprapuse ale fasciculului laser Fig. 6.14. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti în geometria Bragg-Brentano (θ între 30 900 pentru Kα Cu ) 186 Fig. 6.15. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti în geometria Bragg-Brentano (θ
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
cu două treceri suprapuse ale fasciculului laser Fig. 6.14. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti în geometria Bragg-Brentano (θ între 30 900 pentru Kα Cu ) 186 Fig. 6.15. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti în geometria Bragg-Brentano (θ între 25 450 pentru Kα Cu ) Fig. 6.16. Indexarea automată a constituenților probei examinate pe baza valorii picurilor și a valorii unghiurilor de difracție (pentru 2
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
Cu ) 186 Fig. 6.15. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti în geometria Bragg-Brentano (θ între 25 450 pentru Kα Cu ) Fig. 6.16. Indexarea automată a constituenților probei examinate pe baza valorii picurilor și a valorii unghiurilor de difracție (pentru 2 θ între 01500 pentru Kα Cu) Fig. 6.17. Caracteristicile și parametrii înregistrați pentru domeniul 2θ între 35-92 pentru Kα Cu pentru probele nemarcate din Ti, utilizate ca etalon 187 Fig. 6
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
de difracție (pentru 2 θ între 01500 pentru Kα Cu) Fig. 6.17. Caracteristicile și parametrii înregistrați pentru domeniul 2θ între 35-92 pentru Kα Cu pentru probele nemarcate din Ti, utilizate ca etalon 187 Fig. 6.18. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti, în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 35920 pentru Kα Cu) 188 Fig. 6.19. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mici pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
Ti, utilizate ca etalon 187 Fig. 6.18. Identificarea automată a picurilor și valorile pentru unghiurile de difracție pentru proba Ti, în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 35920 pentru Kα Cu) 188 Fig. 6.19. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mici pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 35450 pentru Kα Cu) Fig. 6.20. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mari pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 60800
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
între 35920 pentru Kα Cu) 188 Fig. 6.19. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mici pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 35450 pentru Kα Cu) Fig. 6.20. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mari pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 60800 pentru Kα Cu) Fig. 6.21. Trasarea comparativă și automată a picurilor pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 30900 pentru Kα Cu
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
θ între 35450 pentru Kα Cu) Fig. 6.20. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mari pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 60800 pentru Kα Cu) Fig. 6.21. Trasarea comparativă și automată a picurilor pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 30900 pentru Kα Cu) 189 Fig. 6.22. Trasarea comparativă și automată a picurilor la unghiuri mici, pentru probele de Ti în geometria Bragg-Brentano (2 θ între 35450 pentru Kα
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]