490 matches
-
care conținea un miez de niobiu colorat în albastru-intens, fiind emisă în momentul celei de-a 700-a aniversare al celui mai vechi oraș; alte emisii ulterioare conțineau miezuri de niobiu violet și verde;culoarea acestor monede era dată de difracția luminii de către un strat de oxizi subțire produs de anodizare.. Și alte țări au adoptat acest tip de monede, precum Mongolia și Sierra Leone. În 2012, zece monede erau disponibile, având o varietate de culori în centrul lor: albastru, verde, maro
Niobiu () [Corola-website/Science/304786_a_306115]
-
numită uneori și a lui Arago sau a lui Fresnel) este un fenomen optic care se manifestă prin apariția unui punct luminos în centrul umbrei unui obiect rotund și opac, iluminat de o sursă punctiformă. Întrucît este o consecință a difracției luminii, fenomenul avea să joace un rol important în demonstrarea naturii ondulatorii a luminii, într-o vreme cînd teoria corpusculară era încă preferată de fizicieni. La începutul secolului al XIX-lea fizicienii dezbăteau dacă lumina e o particulă sau o
Pata lui Poisson () [Corola-website/Science/332766_a_334095]
-
dacă ordinea lor era inversată. Această observație a dus la concluzia că nu masa atomică determină proprietățile chimice ale elementelor, ci o altă mărime, necunoscută atunci, care doar era aproximativ corelată cu masa atomică. Printr-o serie de experimente de difracție de raze X, Moseley a constatat că mărimea căutată era sarcina electrică a nucleului, adică numărul de protoni ai acestuia. Abia mai târziu s-a pus în evidență faptul că în nucleu există și particule fără sarcină electrică, neutronii, care
Număr atomic () [Corola-website/Science/298581_a_299910]
-
principiul incertitudinii este înțeles astfel: la nivel elementar, universul fizic nu există într-o formă determnistă — el există ca o colecție de probabilități, sau potențiale. De exemplu, distribuția de probabilitate produsă de milioane de fotoni trecând printr-o fantă de difracție poate fi calculată cu ajutorul mecanicii cuantice, dar calea exactă a fiecărui foton nu poate fi prezisă prin nicio metodă cunoscută. Interpretarea Copenhaga susține că nu poate fi prezisă prin "nicio" metodă, nici măcar cu instrumente de precizie teoretic infinită. Această interpretare
Principiul incertitudinii () [Corola-website/Science/308245_a_309574]
-
obținut dovezi ce susțin teoria undelor [7, 8]. Astfel, el a efectuat o serie de experimente la Cambridge, Marea Britanie, între 1797 și 1799, în cadrul cărora a pus în evidență modele formate din benzi întunecate și luminoase (modele de interferență sau difracție) și care apar atunci când lumina traversează două aperturi adiacente. A susținut că lumina este polarizată, ceea ce sugerează o anumită direcționalitate a componentelor de undă. În 1865, James Clerk Maxwell a elaborat teoria electromagnetismului, care concluziona că lumina conține vectori electrici
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
fotonilor, respectiv reacția permite undei să crească în mod coerent. Pierderile din cavitate au mai multe cauze: transmisia prin elementul de cuplaj pentru ieșire (ieșirea utilă), împrăștierea determinată 20 de neomogenitățile optice din mediul activ, absorbția și împrăștierea aferente oglinzilor, difracția adiacentă perimetrului oglinzilor și absorbția în mediul activ de către niveluri de energie neimplicate în tranziția laser. Termenul rezonator [19, 20] este utilizat aici pentru denumirea combinației dintre cavitatea optică și dispozitivul de excitare, alături de structura care conține și menține integritatea
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
sau al modurilor. Radiația luminoasă este extrasă din cavitatea optică prin intermediul unui element de cuplaj pentru ieșire. Acest element este practic o „fereastră”, care poate fi un solid parțial transmisiv, un gaz total transmisiv sau o rețea tip grilă de difracție. Spectrul larg de emisie al unor laseri face posibilă modularea ieșirii, dacă este folosită o rețea de difracție în cadrul elementului de cuplaj pentru ieșire. Există două moduri spațiale comun utilizate pentru descrierea fasciculului: longitudinal și transversal. Acestea sunt în general
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
element este practic o „fereastră”, care poate fi un solid parțial transmisiv, un gaz total transmisiv sau o rețea tip grilă de difracție. Spectrul larg de emisie al unor laseri face posibilă modularea ieșirii, dacă este folosită o rețea de difracție în cadrul elementului de cuplaj pentru ieșire. Există două moduri spațiale comun utilizate pentru descrierea fasciculului: longitudinal și transversal. Acestea sunt în general independente unul de altul, având în vedere că dimensiunea transversală dintr-un rezonator este în mod normal considerabil
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
măsura tendinței fasciculului de a se lărgi pe măsură ce se propagă dinspre laser. Cu cât diametrul îngustării fasciculului este mai mare, cu atât va fi mai redusă divergența. Dimensiunea minimă la care poate fi focalizat un fascicul laser reprezintă limita de difracție, care se referă la diametrul minim al unui fascicul TEM00 (Gaussian) Pentru prelucrarea materialelor, beneficiile unei calități ridicate a fasciculului sunt de trei tipuri. Un diametru focal mic conferă o eficiență superioară procesului, o intrare energetică redusă și detalii mai
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
laser este livrat asupra piesei de lucru fie prin intermediul drumurilor bazate pe oglinzi, fie prin intermediul unui cablu cu fibre optice. Fasciculul poate fi astfel manipulat în diferite forme și distribuții ale intensității, fiind proiectate elemente optice transmisive, reflective și de difracție, capabile a fi încorporate în sisteme de livrare a fasciculului, cu diverse grade de sofisticare. În paralel, au fost dezvoltate sisteme de manipulare a piesei de lucru, într-o gamă de configurații extrem de cuprinzătoare [29]. Fig. 1.8. Laseri comerciali
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
lungimii de undă a laserului În general, lungimile de undă reduse sunt absorbite mai bine de către materiale [26]. Lungimea de undă determină, de asemenea, dimensiunea teoretică minimă a amprentei focalizate. Pentru un laser TEM00 dotat cu elemente optice pentru limitarea difracției, dimensiunea amprentei focalizate, s, este dată de: (1.8) unde λ este lungimea de undă, f este distanța focală, iar d este diametrul fasciculului (la intrarea în lentilă). Este evident că amprenta focalizată este proporțională cu lungimea de undă a
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
este stabil reproductibil. Rezultă că dimensiunile structurii produse nu sunt limitate de către deteriorarea termică sau mecanică, precum topirea, formarea de margini crestate și fisuri etc. Așadar, dimensiunile minime ale structurii ce se poate obține sunt limitate în principal doar de difracția la nivel de o singură lungime de undă [42]. Trebuie admis, de asemenea, că pulsurile laser ultra rapide presupun intensități ridicate, ce declanșează efecte neliniare de absorbție, ce pot domina procesul de interacțiune [41]. Rezultă una dintre cele mai importante
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
vectorială de baleere a fasciculului la inscripționare; perfecționarea acesteia poate conduce la obținerea unor rezultate superioare. Capitolul 6 ANALIZA PRIN DIFRACTOMETRIE CU RAZE X A MICROTENSIUNILOR INTERNE ȘI A TENSIUNILOR REZIDUALE DIN PROBELE MARCATE 6.1. Tehnici de analiză prin difracție de raze X Difracția de raze X (XRD) este o tehnică eficientă ce permite realizarea unor analize calitative, fiind utilizată pentru identificarea fazelor cristaline și studiul tensiunilor interne prezente în materiale, respectiv pentru determinarea de proprietăți structurale (starea de deformare
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
fasciculului la inscripționare; perfecționarea acesteia poate conduce la obținerea unor rezultate superioare. Capitolul 6 ANALIZA PRIN DIFRACTOMETRIE CU RAZE X A MICROTENSIUNILOR INTERNE ȘI A TENSIUNILOR REZIDUALE DIN PROBELE MARCATE 6.1. Tehnici de analiză prin difracție de raze X Difracția de raze X (XRD) este o tehnică eficientă ce permite realizarea unor analize calitative, fiind utilizată pentru identificarea fazelor cristaline și studiul tensiunilor interne prezente în materiale, respectiv pentru determinarea de proprietăți structurale (starea de deformare, dimensiuni de grăunți, compoziții
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
de deplasare a suprafeței probei (având în vedere că probele au suprafețe curbe, ca urmare a secționării profilelor de paletă), respectiv eroarea de planeitate a probei și o transparență mai mare la radiația X. Pentru indexarea picurilor ca rezultat al difracției, s-au utilizat ultimele date disponibile în literatura de specialitate (International Center Diffraction Data, ICDD), precum și valorile din ASTM-uri incluse în memoria difractometrului. Difractometria cu contor folosită în studiul materialelor policristaline a fost deosebit de precisă. Au fost eliminate erorile
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
noilor texturi rezultate în zona de iradiere laser. Este evident că posibilitatea sesizării in situ a acestor efecte este importantă în determinarea influenței încălzirii rapide, precum și asupra proprietăților materialului în zona supusă marcajului. 6.2. Aparatura utilizată în determinările de difracție de raze X Analizele de difracție s-au realizat pe un difractometru de raze X tip MPD Panalytical, cu care se pot determina: compoziția fazică, tensiunile interne și textura, precum și caracteristicile structurale ale straturilor subțiri. Echipamentul este un difractometru de
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
iradiere laser. Este evident că posibilitatea sesizării in situ a acestor efecte este importantă în determinarea influenței încălzirii rapide, precum și asupra proprietăților materialului în zona supusă marcajului. 6.2. Aparatura utilizată în determinările de difracție de raze X Analizele de difracție s-au realizat pe un difractometru de raze X tip MPD Panalytical, cu care se pot determina: compoziția fazică, tensiunile interne și textura, precum și caracteristicile structurale ale straturilor subțiri. Echipamentul este un difractometru de raze X de înaltă performanță, destinat
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
în principal investigațiilor structurale. Fig. 6.1. Difractometrul de raze X - X’Pert PRO MPD (fabricat de către firma PANALYTICAL-Olanda) Fig. 6.2. Suport de probe pentru alinierea motorizată a probelor. Controlat de la distanță în infraroșu 6.3. Analiza microstructurală prin difracție de raze X - principii generale Difracția de raze X este o metodă nedistructivă, ce permite obținerea de informații detaliate despre structura cristalografică și compoziția chimică a materialelor naturale sau fabricate. Difracția de raze X oferă o bună precizie la măsurarea
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
1. Difractometrul de raze X - X’Pert PRO MPD (fabricat de către firma PANALYTICAL-Olanda) Fig. 6.2. Suport de probe pentru alinierea motorizată a probelor. Controlat de la distanță în infraroșu 6.3. Analiza microstructurală prin difracție de raze X - principii generale Difracția de raze X este o metodă nedistructivă, ce permite obținerea de informații detaliate despre structura cristalografică și compoziția chimică a materialelor naturale sau fabricate. Difracția de raze X oferă o bună precizie la măsurarea spațiilor interatomice și este metoda dedicată
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
de la distanță în infraroșu 6.3. Analiza microstructurală prin difracție de raze X - principii generale Difracția de raze X este o metodă nedistructivă, ce permite obținerea de informații detaliate despre structura cristalografică și compoziția chimică a materialelor naturale sau fabricate. Difracția de raze X oferă o bună precizie la măsurarea spațiilor interatomice și este metoda dedicată determinării stărilor de deformație în straturile subțiri. Fiind o metodă nedistructivă și nepresupunând contactul direct cu proba studiată, este ideală pentru studiile in situ. Intensitățile
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
în straturile subțiri. Fiind o metodă nedistructivă și nepresupunând contactul direct cu proba studiată, este ideală pentru studiile in situ. Intensitățile măsurate pot furniza informații precise privind aranjamentul atomic la interfețe (de exemplu, în filmele multistrat). Pot fi studiate prin difracție de raze X materiale cu orice compoziție chimică; metoda este mai precisă pentru elementele cu număr atomic mare, datorită faptului că intensitățile razelor difractate sunt mai mari decât în cazul elementelor cu număr atomic mic. În consecință, precizia metodei depinde
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
este mai precisă pentru elementele cu număr atomic mare, datorită faptului că intensitățile razelor difractate sunt mai mari decât în cazul elementelor cu număr atomic mic. În consecință, precizia metodei depinde de materialul studiat. Pentru studiul straturilor subțiri, metode alternative difracției de raze X sunt: microscopia electronică prin transmisie (TEM), difracția de electroni de joasă energie (LEED), difracția de electroni de înaltă energie (RHEED) și difracția de neutroni. Primele două sunt limitate la studiul suprafețelor și nu oferă informații despre întreaga
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
faptului că intensitățile razelor difractate sunt mai mari decât în cazul elementelor cu număr atomic mic. În consecință, precizia metodei depinde de materialul studiat. Pentru studiul straturilor subțiri, metode alternative difracției de raze X sunt: microscopia electronică prin transmisie (TEM), difracția de electroni de joasă energie (LEED), difracția de electroni de înaltă energie (RHEED) și difracția de neutroni. Primele două sunt limitate la studiul suprafețelor și nu oferă informații despre întreaga grosime a straturilor. În difracția de neutroni, sensibilitatea este mult
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
mari decât în cazul elementelor cu număr atomic mic. În consecință, precizia metodei depinde de materialul studiat. Pentru studiul straturilor subțiri, metode alternative difracției de raze X sunt: microscopia electronică prin transmisie (TEM), difracția de electroni de joasă energie (LEED), difracția de electroni de înaltă energie (RHEED) și difracția de neutroni. Primele două sunt limitate la studiul suprafețelor și nu oferă informații despre întreaga grosime a straturilor. În difracția de neutroni, sensibilitatea este mult diferită față de XRD, dar sursele de neutroni
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
mic. În consecință, precizia metodei depinde de materialul studiat. Pentru studiul straturilor subțiri, metode alternative difracției de raze X sunt: microscopia electronică prin transmisie (TEM), difracția de electroni de joasă energie (LEED), difracția de electroni de înaltă energie (RHEED) și difracția de neutroni. Primele două sunt limitate la studiul suprafețelor și nu oferă informații despre întreaga grosime a straturilor. În difracția de neutroni, sensibilitatea este mult diferită față de XRD, dar sursele de neutroni sunt mai slabe decât sursele de raze X
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]