25 matches
-
b. O dimensiune a celei mai spațioase aperturi optice egală sau mai mare de 1 m și o lungime focală pentru proporția aperturii egală sau mai mare decât 7:1; c. Sunt proiectate ca elemente optice Fresnel, fâșie, prismatice sau difractate; d. Sunt proiectate din sticlă de silicat de bor având un coeficient al expansiunii termice liniare mai mare de 2,5*10-6/K la 25 ș C; sau e. Sunt elemente optice de raze X având capacități de oglindire interioară
jrc4712as2000 by Guvernul României () [Corola-website/Law/89878_a_90665]
-
spre ea un fascicul de lumină care are aceeași poziție și distribuție ca și unda de referință folosită la înregistrare. Franjele de interferență înregistrate pe placa fotografică acționează asupra acestui fascicul ca o rețea de difracție și generează o undă difractată, undă care are aceeași formă ca și cea venită de la obiectul holografiat și produce pe retina ochiului aceeași imagine ca și obiectul real. Holografia se deosebește de fotografia stereoscopică prin aceea că aceasta din urmă înregistrează informația sosită la două
Holografie () [Corola-website/Science/304618_a_305947]
-
Intrarea cu boltă din partea stângă, a fost zidit în timpul renovărilor de la sfârșitul anilor '70, când au fost transformate și ferestrele. Merită o atenție deosebită aripa din partea dreaptă a clădirii. Intrarea cu boltă este ornată cu o balustradă cu arc foarte difractat, iar ferestrele sunt ornate cu motive care se încheie cu crini arcuiți franțuzești. Principalul ornament arhitectural al clădirii este ornamentul fațadei, având în centrul său o balustradă cu închidere ușor arcuită. Familia de origine armeană Mélik, se ocupa de comerțul
Remetea, Harghita () [Corola-website/Science/300484_a_301813]
-
al neutronilor este nenul, și deci ei sunt împrăștiați și de câmpurile magnetice. Din cauza acestor forme diferite de interacțiune, cele trei tipuri de radiație sunt potrivite pentru diferite tipuri de studii. În aproximarea cinematică a difracției electronilor, intensitatea unei raze difractate este dată de: Aici, formula 2 este funcția de undă a razei difractate și formula 3 este așa-numitul "factor de structură", dat de: unde formula 5 este vectorul de împrăștiere al razei difractate, formula 6 este poziția unui atom formula 7 în celula unitate
Difracția electronilor () [Corola-website/Science/310989_a_312318]
-
magnetice. Din cauza acestor forme diferite de interacțiune, cele trei tipuri de radiație sunt potrivite pentru diferite tipuri de studii. În aproximarea cinematică a difracției electronilor, intensitatea unei raze difractate este dată de: Aici, formula 2 este funcția de undă a razei difractate și formula 3 este așa-numitul "factor de structură", dat de: unde formula 5 este vectorul de împrăștiere al razei difractate, formula 6 este poziția unui atom formula 7 în celula unitate, și formula 8 este puterea de împrăștiere a atomului, numită și "factor atomic
Difracția electronilor () [Corola-website/Science/310989_a_312318]
-
În aproximarea cinematică a difracției electronilor, intensitatea unei raze difractate este dată de: Aici, formula 2 este funcția de undă a razei difractate și formula 3 este așa-numitul "factor de structură", dat de: unde formula 5 este vectorul de împrăștiere al razei difractate, formula 6 este poziția unui atom formula 7 în celula unitate, și formula 8 este puterea de împrăștiere a atomului, numită și "factor atomic de formă". Suma este calculată peste toți atomii din celula unitate. Factorul de structură descrie felul în care o
Difracția electronilor () [Corola-website/Science/310989_a_312318]
-
informații precise privind aranjamentul atomic la interfețe (de exemplu, în filmele multistrat). Pot fi studiate prin difracție de raze X materiale cu orice compoziție chimică; metoda este mai precisă pentru elementele cu număr atomic mare, datorită faptului că intensitățile razelor difractate sunt mai mari decât în cazul elementelor cu număr atomic mic. În consecință, precizia metodei depinde de materialul studiat. Pentru studiul straturilor subțiri, metode alternative difracției de raze X sunt: microscopia electronică prin transmisie (TEM), difracția de electroni de joasă
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
În timp ce XRD este o metodă nedistructivă, 176 TEM și difracția de electroni sunt metode distructive (datorită metodelor de pregătire a probelor) și necesită nivele ridicate de vid. Unul dintre dezavantajele XRD față de difracția de electroni este nivelul scăzut al intensităților difractate, mai ales pentru elementele cu număr atomic mic. În cazul difracției de electroni, intensitățile sunt de ~108 ori mai mari decât la XRD. Datorită acestor intensități mici, studiul filmelor subțiri reclamă probe de dimensiuni mari, iar rezultatele sunt obținute prin
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
faze, transformări de faze, determinări ale parametrilor de rețea, ale tensiunilor interne, determinarea texturii, ale dimensiunilor de grăunți, etc. Fig. 6.4 prezintă schematic un experiment de difracție de raze X, unde 2θ este unghiul dintre raza incidentă și cea difractată [146-148]. Intensitatea fascicolului difractat este măsurată în funcție de 2θ și de orientarea probei, rezultând astfel un model de difracție. Lungimea de undă a radiației X este de 0,7-2A și corespunde la energii (E=12,4 keV/λ) de 6-17 keV
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
determinări ale parametrilor de rețea, ale tensiunilor interne, determinarea texturii, ale dimensiunilor de grăunți, etc. Fig. 6.4 prezintă schematic un experiment de difracție de raze X, unde 2θ este unghiul dintre raza incidentă și cea difractată [146-148]. Intensitatea fascicolului difractat este măsurată în funcție de 2θ și de orientarea probei, rezultând astfel un model de difracție. Lungimea de undă a radiației X este de 0,7-2A și corespunde la energii (E=12,4 keV/λ) de 6-17 keV. Fig. 6.4. Experiment
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
din radiațiile X împrăștiate de planele atomice dintr un cristal, se naște un maxim de difracție. Condiția pentru existența acestei interferențe este dată de legea lui Bragg: (6.3) unde θhkl este unghiul dintre planele atomice și fascicolul incident (și difractat) - vezi Fig. 6.3. Pentru ca fenomenul de difracție să poată fi observat, detectorul trebuie să fie poziționat astfel încât unghiul de difracție să fie 2θhkl, iar cristalul trebuie să fie orientat astfel încât normala la planul de difracție să fie coplanară cu
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
Pentru ca fenomenul de difracție să poată fi observat, detectorul trebuie să fie poziționat astfel încât unghiul de difracție să fie 2θhkl, iar cristalul trebuie să fie orientat astfel încât normala la planul de difracție să fie coplanară cu fascicolul incident și cel difractat și unghiul între fascicolul difractat și cel incident să fie egal cu unghiul Bragg θhkl . Pentru un monocristal sau pentru un film subțire epitaxial, există o singură orientare a probei pentru fiecare plan (h,k,l) care satisface aceste condiții
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
poată fi observat, detectorul trebuie să fie poziționat astfel încât unghiul de difracție să fie 2θhkl, iar cristalul trebuie să fie orientat astfel încât normala la planul de difracție să fie coplanară cu fascicolul incident și cel difractat și unghiul între fascicolul difractat și cel incident să fie egal cu unghiul Bragg θhkl . Pentru un monocristal sau pentru un film subțire epitaxial, există o singură orientare a probei pentru fiecare plan (h,k,l) care satisface aceste condiții de difracție. Fig. 6.5
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
din mai mulți grăunți sau cristalite (mici regiuni cristaline) având o distribuție de orientări relative. Dacă aceasta distribuție este complet întâmplătoare, atunci difracția se produce de pe orice cristalit care are orientarea potrivită pentru a satisface condițiile de difracție. Radiațiile X difractate emerg asemeni conurilor, cu unghiuri de deschideri de 2θhkl, creând un model tipic de difracție. Zonele marcate prin laser, ca și filmele subțiri, se situează în clasa materialelor intermediare, între monocristale și materiale policristaline și au o textură fibroasă. Aceasta
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
planelor atomice paralele cu suprafața substratului, fiind de altfel întâmplător distribuite. Geometria Bragg-Brentano (metodă prin reflexie) [147-149] este utilizată pe scară largă pentru investigarea filmelor subțiri cu policristale orientate întâmplător. În această geometrie (Fig. 6.6a), fascicolul incident și cel difractat sunt trecute prin fante astfel încât contactul cu proba și apoi preluarea de către detector să se facă la un unghi θ (fante de deviere și respectiv fante de primire). După trecerea prin aceste fante, se detectează fascicolul difractat. Proba este rotită
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
incident și cel difractat sunt trecute prin fante astfel încât contactul cu proba și apoi preluarea de către detector să se facă la un unghi θ (fante de deviere și respectiv fante de primire). După trecerea prin aceste fante, se detectează fascicolul difractat. Proba este rotită cu o viteză unghiulară cu o valoare egală cu jumătate din cea a detectorului. Având în vedere faptul că fascicolul incident și cel difractat fac același unghi cu suprafața probei, informațiile structurale se obțin numai de pe planele
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
și respectiv fante de primire). După trecerea prin aceste fante, se detectează fascicolul difractat. Proba este rotită cu o viteză unghiulară cu o valoare egală cu jumătate din cea a detectorului. Având în vedere faptul că fascicolul incident și cel difractat fac același unghi cu suprafața probei, informațiile structurale se obțin numai de pe planele (hkl) paralele cu aceasta. Când fantele de primire, proba și punctul de focalizare F formează un cerc, fascicolul difractat este focalizat pe fantele de primire (parafocalizare), îmbunătățind
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
în vedere faptul că fascicolul incident și cel difractat fac același unghi cu suprafața probei, informațiile structurale se obțin numai de pe planele (hkl) paralele cu aceasta. Când fantele de primire, proba și punctul de focalizare F formează un cerc, fascicolul difractat este focalizat pe fantele de primire (parafocalizare), îmbunătățind sensibilitatea. O caracterizare aproape perfectă a filmelor subțiri se obține utilizând în difractometru cu cristal dublu (DCD) [149-151]. Această geometrie este similară celei Bragg-Brentano, numai că fascicolul incident este mai întâi difractat
MARCAREA PRIN MICROPERCUŢIE ŞI CU FASCICUL LASER A UNOR MATERIALE by ŞTEFAN RUSU () [Corola-publishinghouse/Science/1607_a_2906]
-
culoare (sticlă colorată roșie) • ecran Modul de lucru: • Așeazați sursa de lumină, apoi fanta, lentila și ecranul pe bancul optic; Obțineți mai întâi imaginea fantei pe ecran prin deplasarea lentilei; • Așezați cât mai aproape de lentilă rețeaua de difracție, ca razele difractate să treacă toate prin lentilă; • Luminați rețeaua și observați pe ecran figura de difracție, asemănătoare cu cea din Fig.1 .15. de mai sus, cu maxim central de ordin zero; • Măsurați distanța x pentru difeiți k de ordin superior; • Calculați
CALEIDOSCOP DE OPTICĂ by DELLIA-RAISSA FORŢU () [Corola-publishinghouse/Science/486_a_748]
-
difracția pe o fantă dreptunghiulară în lumină paralelă (Fraunhofer): S - este izvorul de lumină monocrmatic punctiform formând un fascicul divergent. L1 - lentilă convergentă, transformând fasciculul din divergent într-un fascicul paralel, ce traversează fanta MN și se difractă. Lumina monocromatică difractată este focalizată cu ajutorul lentilei L2 pe ecranul E2 pentru observație, distingându-se o succesiune de benzi (franje) luminoase alternate cu benzi întunecoase, dispuse paralel cu fanta dreptunghiulară. Variația intensității luminoase, se constată pe graficul realizat: în punctul P0 de pe ecran
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
de intensități din ce în ce mai slabe, iar între aceste puncte de maxime diferite se găsesc și minime de intensiate și chiar nule pe măsură ce ne îndepărtăm de punctul central P0. determinarea formulei generale a diferenței de drum optic pentru unde monocromatice. a) undele difractate pe figură sunt deviate de sus în jos: Din figură: , încât diferența de drum optic este: . unde α - unghi de difracție, i - unghi de incidență și ? - constanta de difracție. Pentru franje luminoaseiar punctele cele întunecoase , unde k = 0, ±1
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
deviate de sus în jos: Din figură: , încât diferența de drum optic este: . unde α - unghi de difracție, i - unghi de incidență și ? - constanta de difracție. Pentru franje luminoaseiar punctele cele întunecoase , unde k = 0, ±1, ±2, ..... b) undele difractate pe figură sunt deviate de jos în sus: Formula generală a difracției este: La incidență normală i = 0, atunci diferența de drum optic este: Rețeaua de difracție este o piesă principală pentru alcătuirea spectrografelor cu rețea de difracție. 2.3
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
Dar din figură BA’ + A’B’ = d sin?, încât: 2d sin? = nλ relația lui Bragg. Numărul n se mai numește și ordinal de reflexive ce poate lua pentru razele X, numai anumite valori pentru care are loc reflexia razelor X difractate și reflexia în sine se numește ”reflexive selectivă”. Șirul de valori ale unghiului ? se numesc unghiurile Bragg. 3.6.2. Microscopul electronic: aplicație a caracterului ondulatoriu a electronilor. schema microscopului electronic: Părți componente: S - sursa de electroni C - condensator
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
ușor cu unghia într-o margine, acolo unde bronzul tocit că tăișul unei săbii vechi vibrează cu o puritate neobișnuită și aduce în odaie o undă de lumină. Venea de la mare distanță. Nu se stingea.” Prin oglindă, trecutul este reînviat difractat, la nesfârșit, ipostazele succesive ale personajului conținându-se simultan. Creația presupune cunoașterea interiorității, alunecarea pe firul timpului spre existente anterioare, spre rădăcini. Reflectarea induce trecerea într-o altă realitate devenită materială. Personajul cunoaște autoreflectarea, proiecția ficționala în sine:,, Se așază
Colegiul Naţional "Cuza Vodă" din Huşi : 95 de ani de învăţământ liceal by Costin Clit () [Corola-publishinghouse/Memoirs/643_a_1320]
-
ca fibra să se comporte ca ghid de undă. Principiul de funcționare al fibrelor optice este asemănător, din multe 25 Obțineți mai întâi imaginea fantei pe ecran prin deplasarea lentilei; Așezați cât mai aproape de lentilă rețeaua de difracție, ca razele difractate să treacă toate prin lentilă; Luminați rețeaua și observați pe ecran figura de difracție, cu maxim central de ordin zero; Măsurați distanța x pentru diferiți k de ordin superior; Calculați constanta rețelei l, aplicând relația l = f·k·λ/x
CALEIDOSCOP DE OPTICĂ by DELLIA-RAISSA FORŢU () [Corola-publishinghouse/Science/541_a_1064]