17 matches
-
cu cristale lichide sau ale straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor (wafers) semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale lichide ............................................ scutire - 9027 80 17 - - - altele ............................................................................... scutire - - - altele: 9027 80 91 - - - Vâscozimetre, porozimetre și dilatometre ............... scutire - 9027 80 93 - - - Aparate pentru analizarea proprietăților fizice ale materialelor semiconductoare, ale substratelor cu cristale lichide sau ale straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor (wafers) semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale
32005R1719-ro () [Corola-website/Law/294373_a_295702]
-
vizibile, infraroșii) : 16 7,2 - 9027 80 - Alte instrumente și aparate: - - Electronice 9027 80 11 - - - pH-metre, rH-metre și alte aparate pentru măsurarea conductivității 16 7,2 - 9027 80 19 - - - Altele 16 7,2 - - - Altele: 9027 80 91 - - -Vâscozimetre, porozimetre și dilatometre 16 6,2 - 9027 80 99 - - - Altele 16 6,2 - 9027 90 - Micrometre; părți și accesorii: 9027 90 10 - - Microtoame 16 6,2 p/st 9027 90 90 - - Părți și accesorii 16 7,2 - 9028 Contoare de gaz, de lichide
jrc1253as1987 by Guvernul României () [Corola-website/Law/86392_a_87179]
-
cantităților electrochimice (inclusiv pentru măsurători în laborator/pe teren, pentru urmărirea/controlul proceselor) 9027.80.11 buc. @ S 33.20.53.83 Alte instrumente și aparate electronice 9027.80 (.13 + .17) buc. @ S 33.20.53.85 Viscozimetre, porozimetre și dilatometre 9027.80.91 buc. @ S 33.20.53.89 Alte instrumente și aparate pentru analize fizice și chimice 9027.80 (.93 + .97) buc. @ S 33.20.61.00 Microscoape și aparate de difracție (excl. microscoape optice) 9012.10 buc. @ S
32006R0317-ro () [Corola-website/Law/295168_a_296497]
-
cartonașe, materiale plastice, piele etc. Ca urmare sunt excluse: a) Instrumentele și aparatele care permit examenul structurii microscopice a materialelor, cum sunt microscoapele, metalografice sau altele (poziția nr. 90.11 sau 90.12 ) pentru analize din fizică sau chimie (inclusiv dilatometrele și porozimetrele (poziția nr. 90.27). ... b) Instrumentele și aparatele care se limitează la realizarea operațiilor de măsurare a dimensiunilor (lungime, lărgime, grosime etc.), de calibrare, de etalonare sau de control (piese prelucrate, lucrări în metale, fire etc.) (poziția nr.
EUR-Lex () [Corola-website/Law/166818_a_168147]
-
la spargere. Aparatul este constituit dintr-o cameră în care se află o lampă electrică, un difuzor de lumină, un polarizor și o lunetă de observare cu polarizare. Tensiunile se manifestă prin irizări strălucitoare ale sticlei observate în aparat. 17) Dilatometrele, pentru măsurarea dilatărilor sau a contracțiilor materialelor, cum sunt ceramicele, sticlele, otelurile, aliajele metalice, cocsurile etc., ca urmare a variațiilor de temperatură, aceste aparate sunt cel mai adesea înregistratoare, înregistrarea putând să se facă mecanic pe o diagramă sau fotografic
EUR-Lex () [Corola-website/Law/166818_a_168147]
-
cu cristale lichide sau ale straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor (wafers) semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale lichide ............................................ scutire - 9027 80 17 - - - - altele ......................................... scutire - - - - altele: 9027 80 91 - - - - Vâscozimetre, porozimetre și dilatometre ............... scutire - 9027 80 93 - - - - Aparate pentru analizarea proprietăților fizice ale materialelor semiconductoare, ale substratelor cu cristale lichide sau ale straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor (wafers) semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale
32006R1549-ro () [Corola-website/Law/295524_a_296853]
-
utilizate în reglementările tehnice internaționale. - penetrare cu con (Cone Penetration Test - CPT) și penetrare cu con cu măsurarea presiunii în pori (Piezocone Test - CPTU); - penetrarea dinamică (Dinamic Probing - DP); b) sondaje cu determinări presiometrice (Pressuremeter Test - PMT); ... c) sondaje cu dilatometrul plat (Flat Dilatometer Test - DMT); ... d) sondaje cu aparatul de forfecare cu palete (Field Vane Test - FVT); ... e) încercări cu placa (Plate Loading Test - PLT); ... f) sondaje cu încercări dilatometrice în roci (Rock Dilatometer Test - RDT); ... g) sondaje seismice (procedeele
EUR-Lex () [Corola-website/Law/188248_a_189577]
-
porilor în funcție de raza acestora și suprafața specifică a macroporilor. În practică se ține cont de compresibilitatea mercurului pentru fiecare presiune. Pentru determinarea volumului porilor umpluți cu mercur la o anumită presiune se utilizează relația /8/: (7) în care: A — secțiunea dilatometrului; Q cantitatea de probă în grame; Div.eff — deplasarea mercurului la presiunea p, corectată pentru deplasarea mercurului fără probă. Borovsky și colab. /9/ au aplicat pentru prima dată această metodă pentru studiul copolimerilor macroporoși St-DVB cu scopul de a urmări
(Co)polimeri reticulaţi obţinuti prin polimerizare în suspensie by Cristina Doina Vlad, Maria Valentina Dinu () [Corola-publishinghouse/Science/743_a_1451]
-
t. În cazul studiului lichidului trebuie ținut seama și de dilatarea vasului ce-l conține. În timpul încălzirii sistemului, format din vas (sticlă, metal) și lichidul respectiv, se dilată mai întâi în volum vasul și apoi lichidul din tot vasul. Schema dilatometrului: Scriem relațiile pentru coeficienții de dilatație ale lichidului și vasului de sticlă: 1) ?? = ??? ?0?? pentru lichid 2) ???= ???? ?0?? pentru vas sticlă Din 1 și 2, obținem: relația între cei trei coeficienți:și ??? ?? - coeficientul de
Compendiu de fizică. Nivel preuniversitar by Constantin Popa () [Corola-publishinghouse/Science/648_a_1386]
-
unde sunt încălzite liniar sau răcite. Modificarea lungimii este transmisă prin intermediul unei tije de cuarț la un traductor de deplasare. Temperatura probei este înregistrată prin intermediul unui termocuplu (până la 2050°C) sau a unui pirometru cu radiație (până la 2400°C). Unele dilatometre permit realizarea încercărilor în vacuum sau gaz inert. Aparatele moderne sunt dotate cu sisteme complexe de măsurare, de mare precizie, acestea putând determina: modificarea lungimii, modificarea relativă a lungimii, coeficientul de dilatare liniară, temperatura de înmuiere, punctul de transformare, temperatura
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
modificarea relativă a lungimii, coeficientul de dilatare liniară, temperatura de înmuiere, punctul de transformare, temperatura de tranziție vitroasă, modificarea densității materialului, etc. 3. Modul de lucru 3.1 Aparatură În cadrul acestei lucrări de laborator analiza dilatometrică se face cu ajutorul unui dilatometru diferențial tip LINSEIS L75H/1400. Aparatul este compus din următoarele părți principale (figura 3): * ansamblul cuptor - sistem de măsurare - panou control (1); * sistemul de achiziție și de prelucrare a datelor experimentale (2); * controler (tiristor - 3). În principiu, probele, așezate pe
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
ale variației lungimii probei, dilatării/contracției liniare termice absolute, coeficientului de dilatare termică liniară, temperaturii de înmuiere, punctului de transformare, temperaturii de tranziție sticloasă, modificării densității, a vitezei de sinterizare ș.a. ție sticloasă, modificării densității, a vitezei de sinterizare ș.a. Dilatometrul L75H/1400 permite controlul vitezei de încălzire, reglajul acesteia putându-se face în domeniul 0,1÷50șC/min. Pentru obținerea de date experimentale precise și repetabile se recomandă ca dilatometrul să funcționeze cu viteze relativ mici, de cca. 5÷10șC
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
ș.a. ție sticloasă, modificării densității, a vitezei de sinterizare ș.a. Dilatometrul L75H/1400 permite controlul vitezei de încălzire, reglajul acesteia putându-se face în domeniul 0,1÷50șC/min. Pentru obținerea de date experimentale precise și repetabile se recomandă ca dilatometrul să funcționeze cu viteze relativ mici, de cca. 5÷10șC/min. Probele supuse încercărilor trebuie să aibă capete paralele, dimensiunile lor fiind funcție de tipul secțiunii transversale: * secțiune circulară cu diametrul ϕ=3÷6 mm și lungimea probei L=10÷50
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
unor probe mici, asigură, de obicei, o mai bună precizie de reglare a temperaturii și repetabilitatea rezultatelor, probele mari favorizând în schimb o mai bună precizie privind determinarea alungirii. 3.2 Măsuri specifice de protecția muncii În cazul lucrului cu dilatometrul diferențial trebuie respectate, pe lângă normele generale de protecție a muncii, următoarele: - se interzice înlăturarea capacelor de protecție a instrumentelor sau orice reglaje interne dacă aparatul este cuplat la rețeaua de alimentare cu curent electric; - pentru a înlătura orice pericol de
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
mai mare ca cea ambiantă; - se recomandă utilizarea unor filtre speciale sau a altor metode de eliminare a eventualelor gaze toxice, emanate de epruvetele supuse analizei. 3.3. Desfășurarea lucrării de laborator 1. Se apasă butonul „ON” pentru a porni dilatometrul, pornind și calculatorul aferent acestuia. Se dă drumul la apa de răcire a cuptorului, urmărindu-se ca debitul de apă să nu depășească 0,5 l/min. Funcționarea optimă a aparatului va fi indicată prin culoarea verde a ledului de pe
Tehnici de analiză în ingineria materialelor by Ioan Rusu () [Corola-publishinghouse/Science/91606_a_93477]
-
cristale lichide (LCD) sau a straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale lichide (LCD) - ex 9027.80.17 --- Altele - ex -- Altele: 9027.80.91 --- Vascozimetre, porozimetre și dilatometre - ex 9027.80.93 --- Aparate pentru analizarea proprietăților fizice a materialelor semiconductoare, a substratelor cu cristale lichide (LCD) sau a straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substraturilor cu cristale
EUR-Lex () [Corola-website/Law/146940_a_148269]
-
cristale lichide (LCD) sau a straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substratelor cu cristale lichide (LCD) - ex 9027.80.17 --- Altele - ex -- Altele: 9027.80.91 --- Vascozimetre, porozimetre și dilatometre - ex 9027.80.93 --- Aparate pentru analizarea proprietăților fizice a materialelor semiconductoare, a substratelor cu cristale lichide (LCD) sau a straturilor izolatoare și conductoare în timpul procesului de fabricare a discurilor semiconductoare sau în timpul procesului de fabricare a substraturilor cu cristale
EUR-Lex () [Corola-website/Law/149751_a_151080]